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FERREIRA, N. G.; ABRAMOF, E.; LEITE, N. F.; CORAT, E. J.; TRAVA-AIROLDI, V. J. Analysis of residual stress in diamond films by x-ray diffraction and micro-Raman spectroscopy. Journal of Applied Physics, v. 91, n. 4, p. 2466, Feb. 2002. DOI: <10.1063/1.1431431>. (INPE-10767-PRE/6225). Disponível em: <http://doi.org/10.1063/1.1431431>. Acesso em: 05 maio 2024.
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... como proposto por Ferreira et al. (2002).
... pode ser encontrada na literatura (FERREIRA et al., 2002).